Компания Keysight Technologies продемонстрирует новейшие решения на Европейской микроволновой неделе 2014, которая пройдёт 7-9 октября в Риме в выставочном комплексе Fiera di Roma.
Контрольно-измерительные решения компании адресованы инженерам, проектирующим и тестирующим компоненты РЛС, антенны и беспроводные устройства следующего поколения.
Компания Keysight, уже одиннадцать лет выступающая спонсором Европейской микроволновой недели, проведёт семинары и продемонстрирует контрольно-измерительные решения для аэрокосмической и оборонной промышленности, измерений параметров полупроводниковых приборов, моделирования с помощью САПР ADS компании Keysight, научных исследований и образования.
Основные темы планируемых демонстраций:
Генерация и анализ широкополосных сигналов. Захват и анализ труднорегистрируемых сигналов, анализ переходных процессов с помощью осциллографов и анализаторов сигналов Keysight. Контрольно-измерительная система, оснащенная средствами анализа спектра в режиме реального времени, поможет проанализировать, что происходит внутри изделия, и решить технические проблемы в области цифровой связи и радиолокации, где требуется демодуляция и анализ широкополосных сигналов.
Тестирование систем РЭБ с несколькими излучателями. Генерация сигналов в диапазоне от 0 до 40 ГГц для моделирования систем с несколькими излучателями. Циклы разработки, создания и перепрограммирования приёмников РЭБ опираются на инновационные контрольно-измерительные решения, повышающие эффективность проектирования и реализации.
Многоканальная калибровка антенн. Решение для многоканальной калибровки антенн сокращает время калибровки антенн с нескольких недель до нескольких дней. Высокопроизводительный дискретизатор формата AXIe с несколькими когерентными каналами и цифровой понижающий преобразователь частоты позволяют работать одновременно с несколькими антенными элементами, что ускоряет измерения фазовых и амплитудных характеристик антенн и повышает их точность.
Измерение параметров материалов на частотах от десятков гигагерц до терагерц. Измерения относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь диэлектрических материалов на частотах от десятков гигагерц до терагерц дают важную информацию для проектирования, моделирования, изготовления и контроля качества материалов и полупроводниковых приборов. Эта информация особенно важна для материалов, поглощающих радиоизлучение, диэлектрических подложек, микроволновых печей и биотоплива, где требуется точное измерение электромагнитных свойств вещества.
Полное измерение параметров активных компонентов. Контрольно-измерительные приборы, такие как СВЧ-анализаторы цепей серии PNA-X, предлагают разнообразные встроенные функции, позволяющие измерять полные параметры активных устройств, таких как усилители, смесители и преобразователи частоты.
Пройдут также технические семинары Keysight. Участники семинаров «Поговори с экспертом» встретятся с ведущими специалистами компании Keysight и пообщаются на самые актуальные темы.